光学断层扫描干涉法 追光ing 2023年2月9日 浏览:1142 技术邻 > 其他专业 > 光学工程 摘要 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 建模任务 结果 文件信息