用于宽带低频声衰减的复合声学超材料
摘要:
复合声学超材料理论
通常,传递矩阵T0用于将给定结构的前(x=0)和后(x=d)表面的声压和质点速度联系起来,如下所示:
其中P是声压,V是归一化的声质点速度。 在SMR单胞的情况下,声学性能归因于变面积管道和六个空间线圈元件的有效介质。 因此,将管道中SMR单胞的传递矩阵T0改写为T0=Tf TsTr,其中Ts是SMR单胞的传递矩阵,Tf(Tr)是前(后)变面积管道的贡献,由:
其中K0为空气中声波的波数,Lc=0.5H+0.95R(1-1.25√φ0)为前(后)变面积管道的有效长度,H为SMR晶胞的厚度,φ0为风管变面积比,φ0 = r2/ R2。
(a)复合声学超材料及其组分示意图。 内壁厚度hwall=1 mm,SMR晶胞厚度hSMR=10 mm,HR阵列厚度hHR=20 mm。 (b)外径R=50毫米的SMR单胞的横截面图。 将圆周区划分为6个侧支空间卷取元结构单元,几何参数为:空间卷曲通道宽度W=0.05R,结构框架厚度T=0.035R,卷曲数N=8。 内开区半径r=R-(N+1)×t-N×w。 波路径L被描绘为橙色线。一个SMR单胞的等效模型如右图所示。(c)亥姆霍兹谐振腔阵列由八个亥姆霍兹谐振腔单元组成,它们都有相同的腔体积和颈长,但颈面积不同。
(a)理论(带标记的线)和模拟(线)TL作为沿X方向不同单元数n=1,3,6的SMR单元的函数频率。插入的图形是SMR单元在谐振频率下的声压分布。(b)用n=3模拟TL作为频率和信道宽度w的函数。 (c) n = 3时的仿真TL与频率和帧厚t的关系
(a)作为HR阵列频率函数的理论(带标记的线)和模拟(线)TL。 (b)在(a)中不同共振频率(TL峰)下的HR阵列声压分布横截面图。
理论(虚线)和模拟(实线)TL作为复合AMM(三个SMR单元与一个HR阵列)频率的函数。
(a)阻抗管设置示意图。 (b)用SLA和FDM三维打印技术打印所制备的样品,尺寸为r=14.25mm、r=50mm、h=55mm。 (c)模拟和测量了n=3时复合AMMs的透射率和透射损耗。
模拟了3台SMR单元与6台SMR单元在1个HR阵列下的传输损耗。
模拟了单HR阵列和单HR阵列三个SMR单元的传输损耗。
测量了三个单HR阵列SMR单元和六个单HR阵列SMR单元的传输损耗。
测量了复合AMM的吸收和反射。
结论
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Composite Acoustic Metamaterial for Broadband Low-Frequency Acoustic Attenuation;Physical Review Applied ( IF 4.6 ) Pub Date : 2023-07-07 , DOI: 10.1103/physrevapplied.20.014011
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