Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷

常见的金线材料则包含金、铜、铝等等,由于金线的管径细小,因此金线缺陷往往是芯片封装制程最重要的挑战之一,而金线缺陷包括金线偏移、断裂以及交叉。而为了确保良率及提升性能,封装制程广泛使用多种类的线料。以下将说明如何透过Moldex3D IC封装模块,进行多种金线材料定义的偏移分析。

金线材料设定

步骤1:在Moldex3D网格前处理,用户可产生芯片组件实体网格并设定金线,接着检查图层:SRMI$为芯片封装实体网格图层,WL$PF1为金线图层。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图1

步骤2:点选 Wire Material Setting,并按照提示栏显示的讯息操作。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图2

选择曲线后,按下Enter。使用者可命名并指定金线材料群组的颜色。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图3

步骤3:输出项目分析用网格档,并开启Moldex3D Studio 建立新的项目。

步骤4:新增分析组别并指定不同群组的金线材料,并开启下拉选单并点选材料精灵,开启Moldex3D 材料精灵 

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图4

挑选材料并以右键点选加入项目,点选所需材料后,关闭材料精灵。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图5

用户可下拉选取窗口个别指定金线的材料。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图6

步骤5:确认显示窗口中的材料信息。

Moldex3D模流分析之个别指定金线材料预测芯片封装缺陷的图7

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