通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究

摘要
 通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图1建模任务
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图2 真实物镜的评估
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图3 真实物镜的评估
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图4 用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图5 用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图6 走进VirtualLab Fusion
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图7 VirtualLab Fusion的工作流程
  从Zemax OpticStudio®导入透镜系统- 从Zemax导入光学系统 [用例]  分析实际透镜系统的成像性能- 分析高NA物镜聚焦 [用例]  使用Debye-Wolf积分作为参考- Debey-Wolf积分计算器 [用例]  通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图8 VirtualLab Fusion技术
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图9 文件信息
 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图10 延伸阅读- 分析高NA物镜聚焦- Debey-Wolf积分计算器- 用德拜-沃尔夫积分研究理想矢量聚焦情况

默认 最新
当前暂无评论,小编等你评论哦!
点赞 评论 收藏
关注