通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究

摘要

 

通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图1

建模任务

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图2

 

真实物镜的评估

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图3

 

真实物镜的评估

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图4

 

用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图5

 

用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图6

 

走进VirtualLab Fusion

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图7

 

VirtualLab Fusion的工作流程

 

 从Zemax OpticStudio®导入透镜系统

- 从Zemax导入光学系统 [用例] 

 分析实际透镜系统的成像性能

- 分析高NA物镜聚焦 [用例] 

 使用Debye-Wolf积分作为参考

- Debey-Wolf积分计算器 [用例] 

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图8

 

VirtualLab Fusion技术

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图9

 

文件信息

 

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究的图10

 

延伸阅读

- 分析高NA物镜聚焦

- Debey-Wolf积分计算器

- 用德拜-沃尔夫积分研究理想矢量聚焦情况

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